--------------------------------------------------------------------------------- semi.org 사이트의 반도체 테스터 관련 자료 번역을 시작 출처 - http://www.semi.org/en/standards/ctr_030172 --> http://www1.semi.org/en/automated-test-equipment-technical-standards-committee-formed --------------------------------------------------------------------------------- 오늘날 경제 위기와 산업계에서 "테스트비용"을 더 낮게 책정하기 위한 탐구는 반도체 테스트 산업에서 더 막강한 협력을 하도록 강력한 압박을 만들어 냈다. 불행히도, 반도체 NA ATE 협회(SEMI North American(NA) Standard Test Equipment(ATE) Committee )의 부재로 인해 여러 임시 그룹에 의해 표준 개발이 이뤄졌다. 임시 그룹은 반도체 테스트 공통체를 지원하는 많은 그룹을 따르기가 어려워졌다. 새로 향상된 NA ATE 협회는 다른 임시 표준 조직의 노력을 통합할 것이다. - 특히, 6가지 활동( 아래와 같이 목록화된 산업계 노력이 지속하고 있는)이 SEMI Standard Task Forces에서 교체될 것이다. 1) 테스터 도킹과 마운팅 2) SECS/GEM 표준을 포함하는 테스트 셀 통신 3) STIL : 공통 방언 ( Common Dialects ) ( 필자: STIL은 Teradyne 장비의 테스트 프로그램 문법으로 semi협회에서는 이것을 ATE의 대표 프로그램 문법으로 보고 있는 것 같다. ) 4) 공통 STDF 형식과 사용자 문법 / API ( Common ST...